瞻芯電子與浙江大學聯(lián)合發(fā)表10kV SiC MOSFET研發(fā)成果

作者 | 發(fā)布日期 2025 年 06 月 09 日 14:56 | 分類 企業(yè) , 碳化硅SiC

近日,瞻芯電子與浙江大學在一場行業(yè)會議上聯(lián)合發(fā)表了10kV等級SiC MOSFET的最新研究成果,受到了各界廣泛關注。這一成果彰顯了瞻芯電子在SiC功率器件領域的創(chuàng)新引領地位。

10kV等級SiC MOSFET器件在下一代智能電網(wǎng)、高壓大容量功率變換系統(tǒng)等領域有廣闊的應用場景。但受困于材料及工藝成熟度問題,早期的相關工作多局限于芯片功能展示,芯片面積普遍較小,通流能力較差。如何進一步增加芯片面積,并保持良好的芯片制造良率和可制造性,一直是學術界和產(chǎn)業(yè)界面臨的巨大挑戰(zhàn)。

瞻芯電子成立于2017年,聚焦碳化硅半導體領域,致力于開發(fā)碳化硅功率半導體和芯片產(chǎn)品,圍繞碳化硅應用為客戶提供一站式芯片解決方案。目前已成功自主開發(fā)并掌握6英寸碳化硅MOSFET產(chǎn)品及工藝平臺,還建成一座車規(guī)級碳化硅晶圓廠。

此次發(fā)表的10kV等級SiC MOSFET芯片,基于浙江瞻芯SiC晶圓廠的第三代平面柵工藝平臺生產(chǎn)。其單芯片尺寸達到10mm x 10mm,單芯片導通電流接近40A,擊穿電壓超過12kV,為目前公開發(fā)表的最大尺寸10kV 等級SiC MOSFET芯片。芯片核心性能指標比導通電阻(Ron.sp)小于120mΩ?cm2,接近SiC材料的理論極限。

圖片來源:瞻芯電子

在芯片制造層面,該芯片采用高能離子注入工藝,配合窄JFET區(qū)域設計,有效解決了高壓SiC器件在擊穿電壓和導通電阻之間的矛盾。在芯片設計層面,通過優(yōu)化高壓終端結構,極大地提升了芯片終端效率并降低了制造難度。

通過這一系列工藝和設計創(chuàng)新,實現(xiàn)了更大芯片尺寸、更大通流能力、更高良率水平的10kV SiC MOSFET技術。這一技術將提升下一代智能電網(wǎng)、高壓大容量功率變換系統(tǒng)的應用潛力,為高壓固態(tài)變壓器、高壓直流斷路器等場景的應用革新提供堅實支撐。

(集邦化合物半導體 niko 整理)

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